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E+H创新的界面测量技术


面对不同的界面测量需求,选用合适的测量原理

在连续和动态过程工艺中,高精度界面测量十分重要。液位总高度是始终保持不变?还是不断变化?如果液位高度变化,那么变动的范围有多大呢?进行界面测量时,液位总高度是其中的一个测量值吗?在测量过程中会出现乳化层吗?
上述问题直接关系正确的仪表选型。
我们为您详细介绍各种测量原理的适用范围、物理局限性和调试方法。我们的产品包括导波雷达物位仪、多参数导波雷达物位仪、电容物位仪或放射线物位仪,为您的应用提供技术支持。
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根据不同揭秘测量需求,选择合适的测量原理
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界面测量方案

优势

  • 稳定的产品质量、工厂安全性和经济效率是任何测量的关键。我们为您提供Levelflex 导波雷达物位仪、Levelflex多参数导波雷达物位仪、Liquicap 电容物位仪和 Gammapilot 放射线物位仪,共四种界面测量方法。

  • 导波雷达物位仪:同时测量界面高度和液位高度

  • 多参数导波雷达物位仪:在含乳化层的应用中同时安全输出液位和界面信号

  • 电容物位仪:经实践验证的成熟界面测量原理

  • 放射线物位仪:满足多层界面测量的需求

 

对于界面测量,测量精度是安全控制的先决条件。测量点的可靠性和过程安全对于任意工厂运作都是至关重要的。Endress+Hauser 是全球物位测量仪表的市场领导者,拥有丰富的从业经验,涵盖从设计、调试到维护,以及工厂管理:我们是您的得力合作伙伴。

同机械式系统相比,Endress+Hauser为用户提供低维护需求的仪表和正确的界面测量解决方案,帮助您优化运营成本。

在设计阶段,我们的工具帮助您完成测量点选型;您可以在现场或中控室中,简单便捷的通过引导菜单完成仪表调试。

 


E+H创新的界面测量技术系列产品

  • Levelflex FMP55界面测量仪
  • Liquicap FMI51是全绝缘杆式探头
  • Gammapilot FMG60一体化变送器
  • Levelflex FMP51导波雷达
 
详细了解E+H创新的界面测量技术系列产品请与我们联系。

E+H全系列产品有售,如需选型或了解更多详情请咨询客服:快速询价 快速询价